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瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
?FEl Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業研究環境中的高級研究與分析。
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產品詳情
FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業研究環境中的高級研究與分析。
產品特點:
●更好的圖像數據:
配備同步多重信號檢測的高通量STEM 成像可實現更好的對比度，
●從而可提供高質量圖像
更短的化學成分數據生成時間:
快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級細節
●為擴大應用提供空間:
添加特定于應用的原位樣品桿以開展動態實驗
●更高的穩定性:
采用儀器罩和遠程操作來提高環境***
產品詳情
FEl Talos? F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創新功能可提高通量、精度與易用性，非常適合學術界、**和工業研究環境中的高級研究與分析。
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配備同步多重信號檢測的高通量STEM 成像可實現更好的對比度，
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●為擴大應用提供空間:
添加特定于應用的原位樣品桿以開展動態實驗
●更高的穩定性:
采用儀器罩和遠程操作來提高環境***
閩ICP備2022011940號-1
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